Михаил Александрович Порай-Кошиц - 'Основы структурного анализа химических соединений'
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы "начальных фаз", наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.
Предназначается для студентов химических специальностей университетов.
М. А. Порай-Кошиц
Основы структурного анализа химических соединений
Издание 2-е, переработанное и дополненное
Допущено Государственным комитетом СССР по народному образованию в качестве учебного пособия для студентов химических специальностей университетов
Москва "высшая школа" 1989
ББК 24.4 П59
УДК 543
Рецензент:
доктор физико-математических наук В. И. Симонов (Институт кристаллографии АН СССР)
Порай-Кошиц М. А.
П59 Основы структурного анализа химических соединений:
Учеб. пособие. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Высш. школа,
1989.- 192 с.: ил.
ББК 24.4
543
П
1704000000-542
123-89
001(01)-89
Учебное издание
Порай-Кошиц Михаил Александрович
Основы структурного анализа химических соединении
Зав. редакцией С. Ф. Кондрашкова.
Редактор Г. С. Гольденберг.
Мл. редакторы С. М. Ерохина, Л. С. Макаркина.
Художественный редактор Е. Д. Козырева.
Художник В. В. Гарбузов.
Технический редактор Г. А. Виноградова.
Корректор С. К. Завьялова
ИВ № 7968
Изд. № ХИМ-875. Сдано в набор 26.05.89. Подп. в печать 01.12.89.