Основы структурного анализа химических соединений

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы 'начальных фаз', наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.

• О книге
• Предисловие
• Глава I. Основные понятия и элементы структурной кристаллографии
  • А. Описание решетки кристалла
    • § 1. Группа трансляций - решетка кристалла
    • § 2. Индексы узлов, узловых рядов и узловых сеток решетки кристалла
    • § 3. Обратная решетка
  • Б. Пространственные группы симметрии
    • § 4. Обозначения элементов симметрии конечных фигур, принятые в структурной кристаллографии
    • § 5. Закрытые и открытые операции симметрии
    • § 6. Точечные и пространственные группы симметрии
    • § 7. Взаимодействие трансляций и других операций симметрии
    • § 8. Классификационная схема пространственных групп симметрии
    • § 9. Классы симметрии, сингонии и категории
    • § 10. Координатные системы и метрика решеток
    • § 11. Типы решеток Бравэ
    • § 12. Графическое изображение пространственных групп симметрии
    • § 13. Обозначения пространственных групп симметрии
    • § 14. Правильные системы точек
• Глава II. Дифракция рентгеновских лучей в кристалле
  • § 1. Физическая основа рентгеноструктурного анализа
  • § 2. Параметры рентгеновских волн; рассеяние рентгеновских лучей
  • § 3. Задачи, решаемые в ходе рентгеноструктурного анализа кристаллов
  • § 4. Условия Лауэ
  • § 5. Методы получения дифракционного эффекта
  • § 6. Другие способы представления дифракционного эффекта. Индицирование рентгенограмм
    • Уравнение Брэгга
    • Интерференционное уравнение
  • § 7. Области применения трех методов получения дифракционного эффекта
    • Метод порошка
    • Полихроматический метод
    • Метод вращения
  • § 8. Фотографическая и дифрактометрическая аппаратура рентгеноструктурного анализа монокристаллов
    • Фотографическая аппаратура
    • Дифрактометрическая аппаратура
  • § 9. Автоматизация рентгеноструктурного эксперимента
  • § 10. Методы ускорения дифрактометрического эксперимента
  • § 11. История развития методики и техники структурных исследований кристаллов
• Глава III. Первый этап анализа структуры. Определение параметров решетки и симметрии кристалла
  • § 1. Параметры решетки и число формульных единиц в ячейке
  • § 2. Симметрия кристалла
    • Определение точечной группы. Закон центросимметричности рентгеновской оптики
    • Определение пространственной группы симметрии. Правила погасания
• Глава IV. Второй этап анализа структуры. Определение координат атомов в элементарной ячейке кристалла
  • § 1. Факторы, влияющие на интенсивность дифракционных лучей
  • § 2. Структурная амплитуда и координаты атомов
  • § 3. Структурные амплитуды и распределение электронной плотности по ячейке
  • § 4. Учет симметрии в формулах структурной амплитуды и электронной плотности
  • § 5. Проблема начальных фаз
  • § 6. Общая схема второго этапа анализа структуры
  • § 7. Метод межатомной функции
    • Понятие о межатомной функции
    • Метод тяжелого атома
    • Суперпозиционный метод
    • Паттерсоновский поиск позиции известного фрагмента структуры
  • § 8. Статистический (прямой) метод определения начальных фаз
    • Взаимосвязь между начальными фазами. Фазовые инварианты
    • Значения фазовых инвариантов Φ(3) и Φ(4) для сильных отражений
    • Связь между знаками структурных амплитуд сильных отражений в центросимметричной структуре. Соотношение Захариазена
    • Взаимосвязь между структурными амплитудами. Равенство Сейра
    • Распределение структурных амплитуд и тройных структурных произведений в центросимметричных структурах
    • Функции распределения фазовых инвариантов в не центросимметричных структурах
    • Практические приемы определения знаков структурных амплитуд в случае центросимметричного кристалла
    • Практические приемы определения начальных фаг структурных амплитуд в случае не центросимметричного кристалла
    • Сочетание статистического метода с экспериментальным определением начальных фаз "сильных" отражений
    • Паттерсоновский поиск фрагмента структуры с учетом статистических фазовых соотношений
    • Область применения статистического метода
  • § 9. Метод минимизации структурного функционала
  • § 10. Уточнение координатных и других параметров структуры
  • § 11. Обработка результатов исследования
  • § 12. Автоматизация рентгеноструктурных расчетов
• Глава V. Сравнительные возможности и перспективы дифракционных методов исследования. Задачи рентгеноструктурного анализа в химии
  • § 1. Сравнительные возможности рентгеноструктурного анализа, нейтронографии и электронографии кристаллов
    • Степень размытости максимумов рассеивающей материи
    • Сходимость рядов Фурье
    • Зависимость мощности максимумов от атомных номеров
    • Аппаратура для дифракционных исследований
    • Требование к исследуемому образцу
  • § 2. Сравнительные возможности дифракционных методов изучения структуры кристаллов и веществ в других агрегатных состояниях
  • § 3. Основные задачи рентгеноструктурного анализа в химии
    • Стереохимические задачи
    • Кристаллоструктурные задачи
  • § 4. Новые задачи рентгеноструктурного анализа в физической химии
    • Анализ тепловых колебаний атомов в кристалле
    • Анализ деталей распределения электронной плотности по элементарной ячейке
    • Определение параметров волновых функций
• Заключение

Источник:
Порай-Кошиц М.А. 'Основы структурного анализа химических соединений' - Москва: Высшая школа, 1982 - с.192