Сочетание статистического метода с экспериментальным определением начальных фаз "сильных" отражений
Хотя приборов для непосредственной регистрации начальной фазы электромагнитной волны не существует, разработано несколько методов, позволяющих оценивать начальные фазы отдельных отражений путем изменения условий эксперимента.
Мы лишь перечислим некоторые из таких методов, не останавливаясь на их содержании, поскольку это потребовало бы введения многих новых понятий и представлений.
Метод изоморфных замещений, основанный на сопоставлении значений |F(hkl)| одного и того же отражения от двух или, лучше, трех изоструктурных соединений*.
Метод аномального рассеяния, основанный на сопоставлении амплитуд |F(hkl)| и |F()|, не равных друг другу в условиях, когда длина волны рентгеновского излучения близка к краю полосы поглощения одного из атомов исследуемого кристалла**.
Сочетание метода аномального рассеяния с энергодисперсионной методикой регистрации отражений, позволяющей сопоставлять значения |F(hkl)|, полученные при разных длинах волн. Особенно перспективно здесь использование синхротронного излучения.
Метод одновременных отражений, основанный на анализе изменения величины |F(hkl)| при наличии и отсутствии одновременных отражений h'k'l' и h-h', k-k' , l-l' (см. гл. II, § 6).
Электронографический метод получения дифракционного эффекта от текстурированной пленки вещества с варьированием толщины пленки или скорости электронов первичного пучка.
* (Подробнее см.: Порай-Кошиц М. А. Практический курс рентгеноструктурного анализа. М., Изд-во МГУ, 1960. Т. И. С. 524- 528.)
** (Там же. С. 529-530.)
Все перечисленные методы предъявляют высокие требования к прецизионности измерения интенсивности. Кроме того, первые два применимы лишь в определенных условиях (наличие изоморфных пар, присутствие аномально рассеивающих атомов), а остальные три требуют специальной и очень точной аппаратуры, технически еще недостаточно разработанной. Очевидно также, что все они связаны с весьма трудоемкими процедурами. Поэтому такое экспериментальное определение начальных фаз возможно лишь по отношению к небольшому числу отражений.
Однако и это является весьма важным вкладом в решение проблемы, так как создает "стартовую" основу при работе статистическим методом. Составив все возможные триплетные соотношения между сильными отражениями и отобрав небольшую группу базовых отражений (из числа наиболее сильных и дающих наибольшее число триплетов), мы можем обойтись без процедуры задания случайных начальных фаз базовым отражениям, а попытаться определить их экспериментально. Начальные фазы остальных сильных отражений определятся из статистических соотношений по формулам (52) и (68). При этом отпадает и последующая процедура оценки "качества" разных вариантов начальных фаз по интегральным критериям типа Y2 и Z0. Имеется лишь один вариант!
Такой подход к решению фазовой проблемы и определению кристаллической структуры представляется очень заманчивым при условии, что техническая разработка соответствующих приборов позволит проводить экспериментальное определение фаз наиболее ярких отражений достаточно быстро и с достаточной надежностью.