Новости    Библиотека    Таблица эл-тов    Биографии    Карта сайтов    Ссылки    О сайте


предыдущая главасодержаниеследующая глава

Фотографическая аппаратура

Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения (камера вращения) показана на рис. 33, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. Угол x1 в первом условии Лауэ остается при вращении неизменным и равен 90°. Поэтому и углы φ1(p), отвечающие разным р= 1, 2, 3,..., также сохраняют фиксированные значения, что определяет систему конусов, соосных с направлением оси X. Дифракционные лучи, возникающие в процессе изменения углов x2 и x3 соответственно углов φ2(q) и φ3(q), в двух других условиях Лауэ должны идти по образующим этой системы конусов. На каждом таком конусе выделяются отдельные (дискретные) направления, отвечающие дифракционным лучам с заданным р и разными q и r.

Рис. 34. Кинематическая схема трех кружного дифрактометра
Рис. 34. Кинематическая схема трех кружного дифрактометра

Пятна на рентгеновской пленке, помещенной в цилиндрическую кассету, расположатся на параллельных окружностях, а на распрямленной после проявления пленке - на параллельных прямых (слоевых линиях). Средняя по высоте слоевая линия отвечает развернутому конусу (р=0, φ1 = 90°); симметрично по отношению к ней размещаются слоевые линии с р=1 и р=- 1, р=2 и р= -2 и т. д.

Если внутрь камеры вставить экранирующий металлический цилиндр с прорезью для пропускания лучей одной (заданной) слоевой линии (рис. 33, б), а кассету с пленкой перемещать вдоль оси X синхронно с вращением кристалла, то пятна этой слоевой линии окажутся развернутыми по всей плоскости пленки. Координата х (рис. 33, в) каждого пятна будет характеризовать угол τ - отклонение соответствующего дифракционного луча от плоскости, проведенной через первичный пучок и ось вращения. Другая координата z - величина смещения самой кассеты в процессе поворота кристалла - определит угол ω поворота кристалла из исходного положения до момента возникновения дифракционного луча, т. е. ориентацию кристалла в момент отражения. Такова в общих чертах схема рентгенгониометра Вейсенберга.

предыдущая главасодержаниеследующая глава











© CHEMLIB.RU, 2001-2021
При копировании материалов проекта обязательно ставить активную ссылку на страницу источник:
http://chemlib.ru/ 'Библиотека по химии'

Рейтинг@Mail.ru

Поможем с курсовой, контрольной, дипломной
1500+ квалифицированных специалистов готовы вам помочь