Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения (камера вращения) показана на рис. 33, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. Угол x1 в первом условии Лауэ остается при вращении неизменным и равен 90°. Поэтому и углы φ1(p), отвечающие разным р= 1, 2, 3,..., также сохраняют фиксированные значения, что определяет систему конусов, соосных с направлением оси X. Дифракционные лучи, возникающие в процессе изменения углов x2 и x3 соответственно углов φ2(q) и φ3(q), в двух других условиях Лауэ должны идти по образующим этой системы конусов. На каждом таком конусе выделяются отдельные (дискретные) направления, отвечающие дифракционным лучам с заданным р и разными q и r.
Рис. 34. Кинематическая схема трех кружного дифрактометра
Пятна на рентгеновской пленке, помещенной в цилиндрическую кассету, расположатся на параллельных окружностях, а на распрямленной после проявления пленке - на параллельных прямых (слоевых линиях). Средняя по высоте слоевая линия отвечает развернутому конусу (р=0, φ1 = 90°); симметрично по отношению к ней размещаются слоевые линии с р=1 и р=- 1, р=2 и р= -2 и т. д.
Если внутрь камеры вставить экранирующий металлический цилиндр с прорезью для пропускания лучей одной (заданной) слоевой линии (рис. 33, б), а кассету с пленкой перемещать вдоль оси X синхронно с вращением кристалла, то пятна этой слоевой линии окажутся развернутыми по всей плоскости пленки. Координата х (рис. 33, в) каждого пятна будет характеризовать угол τ - отклонение соответствующего дифракционного луча от плоскости, проведенной через первичный пучок и ось вращения. Другая координата z - величина смещения самой кассеты в процессе поворота кристалла - определит угол ω поворота кристалла из исходного положения до момента возникновения дифракционного луча, т. е. ориентацию кристалла в момент отражения. Такова в общих чертах схема рентгенгониометра Вейсенберга.