В физике часто приходится иметь дело со скалярными произведениями векторов: (rH)=rHcosφ, где φ - угол между векторами. Как известно, при использовании ортогональной системы координат с одинаковыми единичными векторами выражение скалярного произведения через компоненты векторов rX, rY, rZ и HX, HY, HZ имеет очень простой вид:
(4)
Если, однако, система не ортогональна и (или) единицы измерения по осям различны, то представление (rH) через компоненты значительно усложняется. Чтобы сохранить запись в форме (4), помимо основной координатной системы вводится вторая, так называемая взаимная или обратная система координат, и один из векторов выражается через компоненты в основной системе, другой - через свои компоненты в обратной системе.
В частности, к этому средству приходится прибегать и в структурной кристаллографии.
Осевые орты взаимной системы a*,b*, c* определяются через осевые векторы кристаллографической системы a, b, c единичной матрицей скалярных произведений:
т. е. соотношениями
(5)
(6)
Если теперь вектор r представить в кристаллографической системе , а вектор H - во взаимной системе , то, учитывая соотношения (5) и (6), снова получим , если M=1, и
(7)
в общем случае.
Геометрический смысл соотношений (5) и (6) очень прост.
Соотношения означают, что вектор а* перпендикулярен и вектору b и вектору с, т. е. плоскости YZ. Аналогично, вектор b* перпендикулярен плоскости XZ, а вектор с* - плоскости XY.
Соотношение (a*a)=М означает, что . Но -это межплоскостное расстояние между параллельными гранями YZ элементарной ячейки, т. е. межплоскостное расстояние d100 (рис. 3, а). Следовательно, длина осевого вектора обратной решетки равна
(8)
По своей длине осевые орты a*, b*, c* обратны межплоскостным расстояниям серии плоскостей (100),(010) и (001) соответственно (с масштабным коэффициентом М).
Рис. 3. Направление осей обратной координатной системы (а); построение обратной решетки (б)
Используем осевые орты а*, b*, c* для построения второй решетки, т. е. введем систему точек ·hkl·*, удовлетворяющих условию
(9)
где h, k, l - любые целые числа (рис. 3, б).
Решетку, построенную таким образом, называют обратной по отношению к кристаллографической. Этот вспомогательный геометрический образ широко используется в рентгеноструктурном анализе для интерпретации рентгенограмм.
На рис. 4, а изображены прямая и обратная решетки (условно взяты двумерные решетки; третий индекс каждого узла можно считать равным нулю). В обратной решетке проведен узловой ряд через точки ·110·*, ·220·*, ·330·*, т. е. узловой ряд [110]*. На том же рисунке показана серия плоскостей основной решетки, имеющая те же индексы (110). Как видно, они взаимно перпендикулярны. На рис. 4, б то же построение относится к узловому ряду [310]* обратной решетки и серии узловых сеток (310) основной решетки. Узловой ряд [310]* снова перпендикулярен плоскости (310). Кроме того, легко видеть, что чем больше длина вектора Hhkl обратной решетки, тем меньше межплоскостное расстояние в соответствующей серии плоскостей dhkl основной решетки.
Рис. 4. Взаимные ориентации узловых рядов обратной решетки и узловых сеток решетки кристалла: а - сетки (110) и узловой ряд [110]*; б -сетки (310) и узловой ряд [310]*
В общем виде справедливо следующее соотношение.
Вектор Нhkl, проведенный из начала координат в любой узел обратной решетки ·hkl·*, ближайший к началу в данном узловом ряду, всегда перпендикулярен узловой сетке основной (кристаллографической) решетки, имеющей те же индексы, а длина этого вектора |Hhkl| обратно пропорциональна межплоскостному расстоянию dhkl. Если обозначить единичный по длине вектор нормали к серии плоскостей (hkl) через Nhkl (где |N|=1), то сформулированное свойство можно записать в виде соотношения
(10)
Так как узловой ряд [hkl]* далее содержит узлы ·2h2k2l ·, ·3h3k3l ·, и т. д., то в более общей форме
(11)
где
В скалярной форме . Соотношения (8) можно рассматривать как частные случаи этого общего соотношения.
Рис. 5. К доказательству соотношения(11)
Для доказательства справедливости формулы (11) умножим обе части этого равенства скалярно на один из осевых векторов решетки кристалла, например а. С учетом соотношений (5) и (6) в левой части имеем
(12)
В правой части соотношения (11) Nhkl по определению, есть единичный вектор нормали к серии плоскостей (hkl), следовательно, . На рис. 5 изображена ближайшая к началу координат сетка (hkl) и проведена нормаль к ней Nhkl. На оси X отмечен отрезок a/h, отсекаемый этой сеткой, а на нормали Nhkl- расстояние dhkl. Очевидно, что , а вся правая часть (11). Повторив те же операции при скалярном
перемножении обеих частей равенства (11) на b и на с, убеждаемся, что все три компоненты (проекции на оси) векторов, представляющих левую и правую части равенства, совпадают. Значит, оба вектора Hpqr и равны по длине и совпадают по направлению.
Соотношения (10) и особенно (11) будут использованы в последующих разделах при выводе основных формул структурного анализа.
Соотношение (10) дает также основу для вывода формулы (3), связывающей межплоскостное расстояние некоторой серии плоскостей (hkl) с параметрами решетки a, b, c, α, β, γ. Положив М=1 и взяв скалярный квадрат от обеих частей равенства (10), получим
(13)
Далее требуется выразить параметры обратной решетки через параметр кристаллографической, воспользовавшись скалярным представлением соотношений (5) и (6)*. В частности, в случае ортогональной решетки (α= β= γ=90° и соответственно α*= β*= γ*=90°) мы имеем просто a*= 1/а, b*=1/b, с*=1/c и соотношение (13) упрощается до
* (См.: Бокий Г. Б., Порай-Кошиц М. А. Рентгеноструктурный анализ. Т. I. Изд-во МГУ, 1964. С. 316-317.)